Sdílet Sdílet Sdílet

Uncertainty modeling in nanoscale scanning probe microscopy measurements of fullerene C-60

MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY

Campbellova, A; Klapetek, P; Valtr, M, 2011: Uncertainty modeling in nanoscale scanning probe microscopy measurements of fullerene C-60. MEASUREMENT SCIENCE & TECHNOLOGY 22(3), doi: 10.1088/0957-0233/22/3/035106

Výzkumné skupiny:

• Vývoj metod analýzy a měření

CEITEC autoři:

• Mgr. Petr Klapetek, Ph.D.